Meritve debeline Cu ''bakra'' v vialah PCB-jev

Napake v proizodnji PCB-jev so lahko zelo neprijetne , če do njih pride  to ponavadi vpiva na celotno serijo! Konstantna kontrola kvalitete je nujna.Med njih sodi tudi meritev nanosa bakra v metaliziranih luknjicah-vialah.Za ta  namem uporabljamo metodo vrtinčastih tokov ''eddy currrent'' inštrument Phascope PMP10 ali namizni MMS PC2 z posebnimi sondami ESL080B /ESL080V.Preberite si več o aplikativni meritvi...kliknite na označen del teksta...TUKAJ