Prijavi se na e-novice

Bi radi prejemali novosti iz prodajnega programa, medicine, farmacije, analitične kemije in testiranja materialov? Prijavite se na brezplačne e-novice.

Prijavi se

Imate vprašanje?

Za vse, ki vas zanimajo dodatna vprašanja v zvezi z našim prodajnim programom ali pa kar tako nasploh nam lahko pišete in z veseljem vam bomo odgovorili.

Vprašajte nas

Fischerscope X-RAY XDV SDD

Fischerscope X-RAY XDV SDD

Rentgenski inštrument za avtomatizirano merjenje in analizo materialov.

Fischerscope X-RAY XDV SDD uporablja detektor SDD (Silicon Drift Detector) z velikim območjem občutljivosti in dobro energetsko ločljivostjo, ki zagotavlja odlično ponovljivost meritev in zelo nizek prag detekcije. XDV SDD je posebno dobro zasnovan za merjenje najtanjših slojev in analizo sledi materialov v njih. Povečana občutljivost tudi razširi razpon izmerljivih elementov z nižjimi atomskimi števili, tako naprimer lahko zaznavamo tudi fosfor ali aluminij v zraku. Meritve sovpadajo s standardi DIN EN ISO 3497 in ASTM B 568.

 

Lastnosti:

  • vrhunski model, ki podpira kar največ aplikacij;
  • s SDD detektorjem lahko zaznamo tudi zelo visoke intenzivnosti (> 100 kcps) brez izgube na energetski ločljivosti;
  • zelo nizek prag zaznavanja in odlična ponovljivost rezultatov;
  • velika in lahko dostopna merilna komora;
  • avtomatizirano serijsko merjenje s XY ploščo, ki jo je moč programirati.

 

Tipična področja uporabe:

  • pregledovanje zelo tankih slojev, na primer v elektroniki in polprevodniški industriji;
  • analiza sledi škodljivih elementov po RoHS, za igrače in embalažo;
  • najvišja natančnost merjenja zlata in drugih dragocenih kovin;
  • fotovoltažna industrija;
  • meritve debeline in sestave NiP slojev.

Želite več informacij

Ime

E-pošta

Vprašanje

Kontakt

LABSYS d.o.o.

Cesta na Kurešček 37

1292 Ig

 

T: (01) 286 23 30

E: labsys@labsys.si

vse pravice pridržane © Labsys d.o.o. 2012 | Produkcija: Naprej.net