Prijavi se na e-novice

Bi radi prejemali novosti iz prodajnega programa, medicine, farmacije, analitične kemije in testiranja materialov? Prijavite se na brezplačne e-novice.

Prijavi se

Imate vprašanje?

Za vse, ki vas zanimajo dodatna vprašanja v zvezi z našim prodajnim programom ali pa kar tako nasploh nam lahko pišete in z veseljem vam bomo odgovorili.

Vprašajte nas

Fischerscope X-RAY XDV-µ

Fischerscope X-RAY XDV-µ

Rentgenski merilni inštrument z večkapilarno optiko za merjenje najmanjših struktur.

Fischerscope X-RAY XDV-µ merilni sistem je opremljen z večkapilarnim optičnim sistemom, za usmerjanje žarkov X. To omogoča visoko ločljivost izjemno majhnih merilnih površin in zelo visoko občutljivostjo. Zaradi velike površine SDD detektorja lahko izmerimo zelo tanke sloje in natančno določimo sledi ali strukture materialov v njih. Hitra XY plošča z možnostjo programiranja podpira serijske meritve.

 

Lastnosti:

  • merilni inštrument, ki je optimiziran za mikro-analizo;
  • odvisno od rentgenske optike, lahko analiziramo strukture z velikostjo 100 μm ali manj;
  • zelo visoka ločljivost in s tem visoka natančnost;
  • celo za tanke nanose je relativna napaka meritve lahko manj kot 1 nm;
  • velika in prostorna merilna komora z dodatno režo za ploščate vzorce;
  • opravljamo lahko serijske meritve s pomočjo programiranja XY plošče.

 

Tipična področja uporabe:

  • meritve slojev na PCB vezjih, svinčenih okvirjih ali rezinah;
  • meritve slojev in materialov majhnih komponent in tankih žic.

Želite več informacij

Ime

E-pošta

Vprašanje

Kontakt

LABSYS d.o.o.

Cesta na Kurešček 37

1292 Ig

 

T: (01) 286 23 30

E: labsys@labsys.si

vse pravice pridržane © Labsys d.o.o. 2012 | Produkcija: Naprej.net