FISCHER COULOSCOPE CMS2 / CMS2 STEP
Kulometrični namizni merilniki za debelino kovinskih nanosov, tudi večslojnih.
Več informacijFISCHER BETASCOPE
Modul za beta povratno sipanje za sistem MMS PC2: specialist za posebne kombinacije nanos–podlaga.
FISCHER BETASCOPE
BETASCOPE je modul za nadgradnjo osnovne naprave MMS PC2 za neporušno merjenje debeline nanosov po metodi beta povratnega sipanja. Namenjen je organskim in kovinskim nanosom na najrazličnejših podlagah, če je razlika v vrstnem številu atomov nanosa in podlage dovolj velika. Tipični primeri so nanotehnološki premazi na nerjavnem jeklu, debeli zlati nanosi v letalski industriji ali tanki izolacijski nanosi.
Tehnični podatki
- Merilna metoda
- Beta povratno sipanje (radiometrična)
- Merilno območje
- Odvisno od kombinacije nanosa, podlage in uporabljenih beta emiterjev
- Vmesniki
- USB, RS232
Podobni izdelki
Fischer DataCenter
Programska oprema za taktilna merjenja in preizkušanje materialov: testni načrti in obdelava podatkov.
Več informacij
FISCHER DUALSCOPE FMP100 / H FMP150
Vrhunski merilniki debeline nanosov z velikim zaslonom na dotik in zelo širokim naborom sond.
Več informacijZanima vas ta izdelek?
Pošljite povpraševanje in odgovorili vam bomo s konkretno ponudbo ali svetovanjem.