Labsys Ljubljana d.o.o.
OpremaRabljena opremaNajemSistemi in testiRešitveServisNaša zgodbaKontaktReferenceNovicePovpraševanje
SL
labsys@labsys.si · +386 1 2862 330
Helmut Fischer · Merjenje nanosov

DUALSCOPE DMP40

Ročni merilnik debeline nanosov DUALSCOPE DMP40 (komfort model)

DUALSCOPE DMP40

DUALSCOPE DMP40

DUALSCOPE DMP40 je del robustnih ročnih merilnikov družine DMP® za neporušno merjenje debeline nanosov, predvsem v kontroli kakovosti. Ohišje iz aluminija (IP64), zamenljiva Li-Ion baterija za več kot 24 ur dela, digitalne sonde in z adapterjem F tudi analogne sonde ter programska oprema FISIQ® T. Merilna metoda: amplitudno občutljive vrtinčne tokove in magnetna indukcija; uporaba: nemagnetni ali električno neprevodni nanosi na magnetnih ali nemagnetnih prevodnih podlagah (jeklo, železo, Al, Cu, medenina).

Tehnični podatki

Merilna metoda
Amplitudno občutljive vrtinčne tokove in magnetna indukcija
Uporaba
nemagnetni ali električno neprevodni nanosi na magnetnih ali nemagnetnih prevodnih podlagah (jeklo, železo, Al, Cu, medenina)
Pomnilnik meritev
≤ 250.000 meritev v ≤ 2.500 nalogah
Komunikacija
USB-C in Bluetooth
Nadzor mejnih vrednosti
svetloba, zvok in vibracija
Standardi
DIN EN ISO 2178, DIN EN ISO 2360, ASTM D7091, ASTM 4471

Podobni izdelki

Zanima vas ta izdelek?

Pošljite povpraševanje in odgovorili vam bomo s konkretno ponudbo ali svetovanjem.