Labsys Ljubljana d.o.o.
OpremaRabljena opremaNajemSistemi in testiRešitveServisNaša zgodbaKontaktReferenceNovicePovpraševanje
SL
labsys@labsys.si · +386 1 2862 330
Helmut Fischer · Merjenje nanosov

DUALSCOPE H FMP150

Vrhunski ročni merilnik debeline nanosov DUALSCOPE H FMP150 z zaslonom na dotik in načrti pregledov

DUALSCOPE H FMP150

DUALSCOPE H FMP150

DUALSCOPE H FMP150 je namenjen zahtevnim nalogam kontrole kakovosti: meri nemagnetne nanose na železu in jeklu ter izolacijske nanose na neželeznih kovinah, tudi dupleks nanose (barva/vroče cinkanje) v enem postopku z ločenim prikazom. Zaslon na dotik z operacijskim sistemom Windows CE, samodejno prepoznavanje sonde in podlage, velik pomnilnik, prenos po USB; z izbirno programsko opremo Fischer DataCenter IP se načrti pregledov pripravijo na računalniku. Dodatna magnetna metoda omogoča debele kovinske in zaščitne nanose na jeklu ter nikljeve sloje na neželeznih kovinah.

Tehnični podatki

Merilna metoda
Magnetna indukcija, vrtinčni tokovi in magnetna metoda
Merilno območje
odvisno od kombinacije nanos/podlaga in sonde
Zaslon
zaslon na dotik, Windows CE
Prenos podatkov
USB
Nadzor mejnih vrednosti
zvok
Programska oprema
Fischer DataCenter (izbirno: DataCenter IP za načrte pregledov)

Podobni izdelki

Helmut Fischer · Merjenje nanosov

DUALSCOPE FMP100

Vrhunski ročni merilnik debeline nanosov DUALSCOPE FMP100 z zaslonom na dotik in načrti pregledov

Več informacij

Zanima vas ta izdelek?

Pošljite povpraševanje in odgovorili vam bomo s konkretno ponudbo ali svetovanjem.