Labsys Ljubljana d.o.o.
OpremaRabljena opremaNajemSistemi in testiRešitveServisNaša zgodbaKontaktReferenceNovicePovpraševanje
SL
labsys@labsys.si · +386 1 2862 330
Helmut Fischer · Merjenje nanosov

DUALSCOPE MP0R

Žepni merilnik debeline nanosov DUALSCOPE MP0R (komfort model, dva zaslona)

DUALSCOPE MP0R

DUALSCOPE MP0R

DUALSCOPE MP0R iz serije MP0® je kompakten merilnik za hitro terensko merjenje debeline nanosov (npr. barve ali vroče cinkanih nanosov) na skoraj vseh kovinah, z dvema osvetljenima zaslonoma in robustnim ohišjem. Merilna metoda: amplitudno občutljive vrtinčne tokove in magnetna indukcija; sonda: integrirana sonda v napravi. Vnaprej nameščeni načini merjenja po IMO PSPC in SSPC-PA2, samodejno vrteč zaslon, prenos po USB.

Tehnični podatki

Merilna metoda
Amplitudno občutljive vrtinčne tokove in magnetna indukcija
Uporaba
nemagnetni ali električno neprevodni nanosi na magnetnih ali nemagnetnih prevodnih podlagah (jeklo, železo, Al, Cu, medenina)
Merilno območje
0–2000 µm
Sonda
integrirana sonda v napravi
Pomnilnik meritev
10.000 meritev
Merilni načini
načini po IMO PSPC in SSPC-PA2
Prenos podatkov
USB

Podobni izdelki

Zanima vas ta izdelek?

Pošljite povpraševanje in odgovorili vam bomo s konkretno ponudbo ali svetovanjem.