FISCHER SR-SCOPE DMP30

FISCHER SR-SCOPE DMP30

Das SR-SCOPE DMP30 aus der DMP-Familie wurde speziell für die Messung von Kupferschichten auf Leiterplatten entwickelt. Es nutzt das elektrische 4-Punkt-Widerstandsverfahren nach DIN EN 14571 und eignet sich für dünne Kupferschichten. Tiefer liegende isolierte Kupferlagen beeinflussen die Messung nicht. Gemessen wird in zwei Bereichen, 0,5 bis 10 µm und 5 bis 120 µm.

Technische Daten

Messverfahren

Mikrowiderstand (4-Punkt-Verfahren)

Norm

DIN EN 14571

Messbereich

0,5–10 µm / 5–120 µm

Speicher

250.000 Werte in 2.500 Serien

Gehäuse

Aluminium, Schutzart IP64

Stromversorgung

Wechselbarer Li-Ionen-Akku, über 24 h Betriebsdauer

Sonden

Digitale Sonde verfügbar