Labsys Ljubljana d.o.o.
OpremaRabljena opremaNajemSistemi in testiRešitveServisNaša zgodbaKontaktReferenceNovicePovpraševanje
SL
labsys@labsys.si · +386 1 2862 330
Helmut Fischer · Merjenje nanosov

FISCHER SR-SCOPE DMP30

Ročni merilnik za merjenje debeline bakrenih plasti na tiskanih vezjih.

FISCHER SR-SCOPE DMP30

FISCHER SR-SCOPE DMP30

SR-SCOPE DMP30 iz družine DMP je razvit posebej za merjenje bakrenih plasti na tiskanih vezjih. Uporablja električno štiritočkovno uporovno metodo po DIN EN 14571, zato je primeren za tanke bakrene plasti. Globlje ležeče izolirane bakrene plasti ne vplivajo na meritev. Meri v dveh območjih, od 0,5 do 10 µm in od 5 do 120 µm.

Tehnični podatki

Merilna metoda
Mikroupornost (štiritočkovna metoda)
Standard
DIN EN 14571
Merilno območje
0,5–10 µm / 5–120 µm
Pomnilnik
250.000 vrednosti v 2.500 serijah
Ohišje
Aluminij, zaščita IP64
Napajanje
Zamenljiva Li-ion baterija, več kot 24 ur delovanja
Sonde
Na voljo tudi digitalna sonda

Podobni izdelki

Helmut Fischer · Merjenje nanosov

FISCHER BETASCOPE

Modul za beta povratno sipanje za sistem MMS PC2: specialist za posebne kombinacije nanos–podlaga.

Več informacij

Zanima vas ta izdelek?

Pošljite povpraševanje in odgovorili vam bomo s konkretno ponudbo ali svetovanjem.