FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY 4000
Robusni inline rendgenski sustav za kontinuirano mjerenje traka, štancanih rešetki i membrana.
Više informacijaFISCHER FISCHERSCOPE X-RAY 5000
Inline rendgenski sustav za mjerenje posebno tankih slojeva na velikim površinama.
FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY 5000
Serija X-RAY 5000 pravi je izbor za nedestruktivnu analizu materijala i mjerenje debljine posebno tankih slojeva na proizvodima velike površine. Kao kompaktna modularna mjerna jedinica lako se ugrađuje u različite proizvodne sustave, npr. za solarne panele i tankoslojne solarne ćelije te za folije i vruće površine. Robusna je, bez pokretnih dijelova, a može se montirati i na vakuumske komore.
Tehnički podaci
- Rendgenska cijev
- Mikrofokusna cijev s volframovom anodom (opcijski molibden)
- Detektor
- Silicijski driftni detektor 50 mm², Peltierovo hlađenje, digitalni procesor impulsa DPP+
- Posebnosti
- Mjerenje u vakuumu ili na zraku; vodeno hlađenje za temperature uzorka do 250 °C; bilo koji položaj ugradnje
- Sučelja
- Daljinsko upravljanje i izvoz podataka putem TCP/IP
Slični proizvodi
FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ SEMI
Rendgenski sustav za potpuno automatizirano mjerenje mikrostruktura na waferima do 12 inča.
Više informacija
FISCHER FISCHERSCOPE XAN LIQUID ANALYZER
Inline rendgenski analizator za potpuno automatizirano mjerenje koncentracije metala u galvanskim kupkama.
Više informacijaZanima vas ovaj proizvod?
Pošaljite upit, a mi ćemo odgovoriti konkretnom ponudom ili savjetom.