FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ
Najmanja mjerna točka i najviša preciznost: za sitne, plosnate komponente i višeslojne sustave.
Više informacijaFISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ SEMI
Rendgenski sustav za potpuno automatizirano mjerenje mikrostruktura na waferima do 12 inča.
FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ SEMI
XDV-µ SEMI optimalno je rješenje za potpuno automatiziranu kontrolu mikrostruktura na waferima. Prikladan je za mjerenje debljine i elementnu analizu osnovnih metalizacija u nanometarskom području, C4 lemnih kuglica, lemnih kapica bez olova na bakrenim stupićima, malih kontaktnih površina i 2,5D/3D pakiranja. Usklađen je s relevantnim SEMI standardima i idealan za nadzor procesa u proizvodnji.
Tehnički podaci
- Namjena
- Wafer do 12 inča; najmanje strukture, vrlo tanki i višeslojni sustavi
- Rendgenska cijev
- Mikrofokusna cijev Ultra s volframovom anodom (opcijski molibden), 4-struko izmjenjiv filtar
- Mjerna točka
- Polikapilarna optika, otprilike 10 ili 17 µm (poluširina)
- Detektor
- Silicijski driftni detektor 20 mm² ili 50 mm², Peltierovo hlađenje
- Sučelja
- Standardizirana SECS/GEM komunikacija
Slični proizvodi
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ LD
Najmanja mjerna točka pri najvećoj mjernoj udaljenosti: za mjerenje najmanjih komponenti.
Više informacija
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB
Profesionalna serija za tiskane pločice: pouzdano i potpuno automatsko mjerenje najmanjih struktura.
Više informacijaZanima vas ovaj proizvod?
Pošaljite upit, a mi ćemo odgovoriti konkretnom ponudom ili savjetom.