COULOSCOPE CMS2
Namizni kulometrični merilnik debeline nanosov (elektrolitsko odstranjevanje sloja)
Več informacijNamizni kulometrični merilnik debeline nanosov z metodo STEP (merjenje posameznih slojev in potencialov)

COULOSCOPE CMS2 STEP je enostaven namizni merilnik, ki z anodnim raztapljanjem (kulometrija po DIN EN ISO 2177) natančno meri debelino skoraj vseh kovinskih enoslojnih in večslojnih nanosov na skoraj vseh podlagah, tam kjer meja XRF metode ni dovolj. Barvni zaslon z grafičnim prikazom napetostne krivulje, skoraj 100 vnaprej definiranih merilnih nalog (npr. cink na železu, nikelj na medenini), pomnilnik 3000 meritev v 50 aplikacijah, USB. Merilno mesto sestavljata naprava in stojalo z merilno celico. Dodatno meri elektrokemijske potenciale in posamezne plasti večslojnih nikljevih nanosov po ASTM B764-04 in DIN EN 16866.
Namizni kulometrični merilnik debeline nanosov (elektrolitsko odstranjevanje sloja)
Več informacijKulometrični namizni merilniki za debelino kovinskih nanosov, tudi večslojnih.
Več informacijModul za beta povratno sipanje za sistem MMS PC2: specialist za posebne kombinacije nanos–podlaga.
Več informacijPošljite povpraševanje in odgovorili vam bomo s konkretno ponudbo ali svetovanjem.