DUALSCOPE MP0-FP

DUALSCOPE MP0-FP

DUALSCOPE MP0-FP iz serije MP0® je kompakten merilnik za hitro terensko merjenje debeline nanosov (npr. barve ali vroče cinkanih nanosov) na skoraj vseh kovinah, z dvema osvetljenima zaslonoma in robustnim ohišjem. Merilna metoda: amplitudno občutljive vrtinčne tokove in magnetna indukcija; sonda: trajno priključena kabelska sonda za težko dostopna mesta.

Tehnični podatki

Merilna metoda

Amplitudno občutljive vrtinčne tokove in magnetna indukcija

Uporaba

nemagnetni ali električno neprevodni nanosi na magnetnih ali nemagnetnih prevodnih podlagah (jeklo, železo, Al, Cu, medenina)

Merilno območje

0–2000 µm

Sonda

trajno priključena kabelska sonda za težko dostopna mesta

Pomnilnik meritev

1.000 meritev