Labsys Ljubljana d.o.o.
OpremaRabljena opremaNajemSistemi in testiRešitveServisNaša zgodbaKontaktReferenceNovicePovpraševanje
SL
labsys@labsys.si · +386 1 2862 330
Helmut Fischer · Merjenje nanosov

PHASCOPE PMP10

Ročni merilnik za kovinske nanose (Ni, Zn, Cu na jeklu) tudi na majhnih delih in hrapavih površinah

PHASCOPE PMP10

PHASCOPE PMP10

PHASCOPE® PMP10 je namenjen kontroli kakovosti kovinskih nanosov: z ustrezno sondo hitro izmeri debelino nanosov niklja, cinka ali bakra na jeklu, tudi na majhnih delih, težko dostopnih mestih in hrapavih površinah. S posebno sondo meri tudi v luknjah tiskanih vezij, baker na vezjih pa brezkontaktno skozi zaščitni lak. Samodejno prepoznavanje podlage, delovanje z baterijo ali polnilnikom, pomnilnik 20.000 meritev, prenos RS232 (izbirno USB).

Tehnični podatki

Merilna metoda
Fazno občutljivi vrtinčni tokovi
Merilno območje
1–200 µm, odvisno od kombinacije in sonde
Pomnilnik meritev
20.000 meritev
Prenos podatkov
RS232 (izbirno USB)
Programska oprema
Fischer DataCenter

Podobni izdelki

Zanima vas ta izdelek?

Pošljite povpraševanje in odgovorili vam bomo s konkretno ponudbo ali svetovanjem.