PHASCOPE PMP10 DUPLEX
Ročni merilnik za dupleks nanose (barva/cink) v avtomobilski industriji s tremi merilnimi metodami
Več informacijRočni merilnik za kovinske nanose (Ni, Zn, Cu na jeklu) tudi na majhnih delih in hrapavih površinah

PHASCOPE® PMP10 je namenjen kontroli kakovosti kovinskih nanosov: z ustrezno sondo hitro izmeri debelino nanosov niklja, cinka ali bakra na jeklu, tudi na majhnih delih, težko dostopnih mestih in hrapavih površinah. S posebno sondo meri tudi v luknjah tiskanih vezij, baker na vezjih pa brezkontaktno skozi zaščitni lak. Samodejno prepoznavanje podlage, delovanje z baterijo ali polnilnikom, pomnilnik 20.000 meritev, prenos RS232 (izbirno USB).
Ročni merilnik za dupleks nanose (barva/cink) v avtomobilski industriji s tremi merilnimi metodami
Več informacijProfesionalni merilniki za zahtevne nanose in dupleks sisteme, na primer barva na cinku na jeklu.
Več informacijPribor za XRF, taktilne in avtomatske merilne rešitve: etaloni, sonde, stojala, držala in pozicionirni pripomočki.
Več informacijPošljite povpraševanje in odgovorili vam bomo s konkretno ponudbo ali svetovanjem.