PHASCOPE PMP10 DUPLEX
Ročni merilnik za dupleks nanose (barva/cink) v avtomobilski industriji s tremi merilnimi metodami
Več informacijProfesionalni merilniki za zahtevne nanose in dupleks sisteme, na primer barva na cinku na jeklu.

PHASCOPE PMP10 DUPLEX je bil razvit za avtomobilsko industrijo za merjenje dupleks nanosov, na primer barve na cinku na jeklu. Meri na jeklu in aluminiju brez menjave sonde ter ločeno prikaže posamezne plasti ali skupno debelino. PHASCOPE PMP10 uporablja fazno občutljivo metodo vrtinčnih tokov in je primeren za tanke nanose, tudi na ukrivljenih površinah.
Ročni merilnik za dupleks nanose (barva/cink) v avtomobilski industriji s tremi merilnimi metodami
Več informacijRočni merilnik za kovinske nanose (Ni, Zn, Cu na jeklu) tudi na majhnih delih in hrapavih površinah
Več informacijModul za beta povratno sipanje za sistem MMS PC2: specialist za posebne kombinacije nanos–podlaga.
Več informacijPošljite povpraševanje in odgovorili vam bomo s konkretno ponudbo ali svetovanjem.