Labsys Ljubljana d.o.o.
OpremaRabljena opremaNajemSistemi in testiRešitveServisNaša zgodbaKontaktReferenceNovicePovpraševanje
SL
labsys@labsys.si · +386 1 2862 330
Helmut Fischer · Merjenje nanosov

FISCHER PHASCOPE PMP10 / PMP10 DUPLEX

Profesionalni merilniki za zahtevne nanose in dupleks sisteme, na primer barva na cinku na jeklu.

FISCHER PHASCOPE PMP10 / PMP10 DUPLEX

FISCHER PHASCOPE PMP10 / PMP10 DUPLEX

PHASCOPE PMP10 DUPLEX je bil razvit za avtomobilsko industrijo za merjenje dupleks nanosov, na primer barve na cinku na jeklu. Meri na jeklu in aluminiju brez menjave sonde ter ločeno prikaže posamezne plasti ali skupno debelino. PHASCOPE PMP10 uporablja fazno občutljivo metodo vrtinčnih tokov in je primeren za tanke nanose, tudi na ukrivljenih površinah.

Tehnični podatki

Merilna metoda
PMP10: fazno občutljivi vrtinčni tok; PMP10 DUPLEX: magnetna indukcija, amplitudno občutljivi vrtinčni tok
Način delovanja
DUPLEX: barva na cinku na jeklu ali aluminiju; DUAL: skupna debelina nanosa
Pomnilnik
20.000
Merilno območje
PMP10: 1–200 µm; PMP10 DUPLEX: sonda 0–2.000 µm
Vmesniki
RS232, opcijsko USB

Podobni izdelki

Helmut Fischer · Merjenje nanosov

PHASCOPE PMP10

Ročni merilnik za kovinske nanose (Ni, Zn, Cu na jeklu) tudi na majhnih delih in hrapavih površinah

Več informacij
Helmut Fischer · Merjenje nanosov

FISCHER BETASCOPE

Modul za beta povratno sipanje za sistem MMS PC2: specialist za posebne kombinacije nanos–podlaga.

Več informacij

Zanima vas ta izdelek?

Pošljite povpraševanje in odgovorili vam bomo s konkretno ponudbo ali svetovanjem.