FISCHERSCOPE X-RAY XDAL-PCB
Univerzalni XRF za majhne strukture, večslojne in funkcionalne nanose ter tanke sloje pod 0,1 µm.
Več informacijOsnovna serija za tiskana vezja: preprosta merjenja komponent in majhnih struktur.

XDLM-PCB je univerzalen XRF merilnik začetnega razreda za preprosta merjenja komponent in majhnih struktur na tiskanih vezjih. Odlikujeta ga zelo velika merilna miza in proporcionalni števec z največjim merilnim oknom na trgu.
- Zelo velika merilna miza
- Proporcionalni števec z največjim merilnim oknom na trgu
Univerzalni XRF za majhne strukture, večslojne in funkcionalne nanose ter tanke sloje pod 0,1 µm.
Več informacijProfesionalna serija za tiskana vezja: zanesljivo in popolnoma samodejno merjenje najmanjših struktur.
Več informacijTanki sloji, elementi v sledeh in zlitine: univerzalni XRF za najmanjše strukture in nanose do 0,1 µm.
Več informacijPošljite povpraševanje in odgovorili vam bomo s konkretno ponudbo ali svetovanjem.