FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600
Tanki sloji, elementi v sledeh in zlitine: univerzalni XRF za najmanjše strukture in nanose do 0,1 µm.
Več informacijFISCHERSCOPE X-RAY XDAL-PCB
Univerzalni XRF za majhne strukture, večslojne in funkcionalne nanose ter tanke sloje pod 0,1 µm.
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL-PCB
XDAL-PCB je univerzalen XRF merilnik za merjenje majhnih struktur, večslojnih nanosov, funkcionalnih nanosov in tankih slojev pod 0,1 µm, med drugim na tiskanih vezjih.
Ključne lastnosti
- 4 zamenljive zaslonke in 3 zamenljivi filtri
- Velik silicijev driftni detektor za dobro natančnost zaznave in visoko ločljivost
Tehnični podatki
- Merilna pega
- Najmanjša približno Ø 0,2 mm
- Detektor
- Silicijev driftni detektor (SDD)
- Debelina nanosov
- Pod 0,1 µm
Podobni izdelki
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL
Univerzalni XRF merilnik za samodejno merjenje tankih in zelo tankih slojev pod 0,05 µm ter analizo v območju ppm.
Več informacij
FISCHERSCOPE XDAL
Najboljši detektorji za tanke sloje: namizni XRF merilnik za nanose pod 0,05 µm in analizo v območju ppm.
Več informacijZanima vas ta izdelek?
Pošljite povpraševanje in odgovorili vam bomo s konkretno ponudbo ali svetovanjem.