FISCHERSCOPE X-RAY XDAL-PCB
Univerzalni XRF za majhne strukture, večslojne in funkcionalne nanose ter tanke sloje pod 0,1 µm.
Več informacijFISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600
Tanki sloji, elementi v sledeh in zlitine: univerzalni XRF za najmanjše strukture in nanose do 0,1 µm.
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600
XDAL 600 je univerzalen XRF merilnik za merjenje na najmanjših strukturah, zelo tankih večslojnih nanosih, funkcionalnih nanosih in zelo tankih slojih do 0,1 µm. Razpoložljivost je odvisna od regije in države.
Ključne lastnosti
- DPP+ procesiranje signala: do 50 % boljša ponovljivost ali občutno krajši merilni časi
- Ročno nastavljiva merilna miza za hitro in enostavno pozicioniranje
Tehnični podatki
- Merilna metoda
- Rentgenska fluorescenca (XRF)
- Debelina nanosov
- Do 0,1 µm
- Merilna miza
- Ročno nastavljiva
Podobni izdelki
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL
Univerzalni XRF merilnik za samodejno merjenje tankih in zelo tankih slojev pod 0,05 µm ter analizo v območju ppm.
Več informacij
FISCHERSCOPE XDAL
Najboljši detektorji za tanke sloje: namizni XRF merilnik za nanose pod 0,05 µm in analizo v območju ppm.
Več informacijZanima vas ta izdelek?
Pošljite povpraševanje in odgovorili vam bomo s konkretno ponudbo ali svetovanjem.