Sadržaj fosfora u kemijskom niklu
Izravno mjerenje sadržaja fosfora u slojevima kemijskog nikla rendgenskom fluorescencijom; fosfor bitno utječe na mehanička i magnetska svojstva sloja.
Debljina slojeva, analiza galvanskih kupki te boje i lakovi: od tankih metalnih slojeva do višeslojnih premaza.
Nema rezultata. Pokušajte s drugom riječi.
Izravno mjerenje sadržaja fosfora u slojevima kemijskog nikla rendgenskom fluorescencijom; fosfor bitno utječe na mehanička i magnetska svojstva sloja.
Mjerenje debljine stvrdnutih praškastih premaza radi kontrole kvalitete i smanjenja potrošnje praha kod izvođača i u ulaznoj kontroli.
Kontrola debljine suhog filma (DFT) prema specifikaciji SSPC-PA2 na mostovima, brodovima, cjevovodima i spremnicima vode.
Točno mjerenje na zakrivljenim površinama posebnom sondom koja uklanja potrebu za umjeravanjem za svaki polumjer zakrivljenosti.
Točno mjerenje na zakrivljenim površinama posebnom sondom koja uklanja potrebu za umjeravanjem za svaki polumjer zakrivljenosti.
Mjerenje protukorozivnih slojeva u teško dostupnim šupljinama karoserija zakrivljenom magnetsko-induktivnom sondom.
Određivanje debljine višeslojnih metalnih slojeva na plastičnim kupaonskim armaturama, npr. tušu.
Određivanje debljine višeslojnih metalnih slojeva na plastičnim kupaonskim armaturama, npr. tušu.
Uređaj MMS PC2 s USB, LAN i serijskim sučeljem te digitalnim U/I za nadzor procesa izravno u proizvodnji.
Mjerenje debljine raspršenih akustičnih slojeva u unutrašnjosti vozila sondom FA14 kompaktnog koljenastog oblika za uska mjesta.
Inline mjerenjem slojevi se nanose što tanje unutar tolerancije, čime se kod zlata štedi materijal; primjer sloja zlata 2–4 µm.
Inline mjerenjem slojevi se nanose što tanje unutar tolerancije, čime se kod zlata štedi materijal; primjer sloja zlata 2–4 µm.
Mjerenje debljine laka prema jasno definiranim postupcima i prikupljanje podataka za optimizaciju procesa softverom DataCenter.
Mjerenje debljine laka prema jasno definiranim postupcima i prikupljanje podataka za optimizaciju procesa softverom DataCenter.
Rendgenska fluorescentna analiza otopina u zatvorenoj ćeliji s tankom folijom radi kontrole sastava galvanskih kupki.
Rendgenska fluorescentna analiza otopina u zatvorenoj ćeliji s tankom folijom radi kontrole sastava galvanskih kupki.
Mjerenje 60–70 µm debelih slojeva NiP (najmanje 10 % fosfora) na klipovima elektromagnetskih ventila u automatskim mjenjačima rendgenskom fluorescencijom.
Mjerenje 60–70 µm debelih slojeva NiP (najmanje 10 % fosfora) na klipovima elektromagnetskih ventila u automatskim mjenjačima rendgenskom fluorescencijom.
Nerazorno mjerenje debljine PVD slojeva na pilama, svrdlima i alatima za oblikovanje rendgenskom fluorescencijom (XDLM).
Nerazorno mjerenje debljine PVD slojeva na pilama, svrdlima i alatima za oblikovanje rendgenskom fluorescencijom (XDLM).
Kontrola galvaniziranih dijelova prema vlastitim planovima mjerenja u programu DataCenter uz dokumentirane rezultate.
Kontrola galvaniziranih dijelova prema vlastitim planovima mjerenja u programu DataCenter uz dokumentirane rezultate.
Mjerenje 25–50 µm debelih tvrdih slojeva Nikasil na kliznim površinama aluminijskih cilindara motora.
Mjerenje 25–50 µm debelih tvrdih slojeva Nikasil na kliznim površinama aluminijskih cilindara motora.
Mjerenje laka na pocinčanom čeliku i aluminiju (KTL/EDP) bez ponovnog umjeravanja uz kompenzaciju vodljivosti različitih aluminijskih legura.
Mjerenje laka na pocinčanom čeliku i aluminiju (KTL/EDP) bez ponovnog umjeravanja uz kompenzaciju vodljivosti različitih aluminijskih legura.
Pouzdano mjerenje debljine laka na sivom lijevu ili pjeskarenom čeliku, gdje hrapavost podloge uzrokuje velika odstupanja očitanja.
Pouzdano mjerenje debljine laka na sivom lijevu ili pjeskarenom čeliku, gdje hrapavost podloge uzrokuje velika odstupanja očitanja.
Mjerenje tankog filma maziva na limu (valjanje, prešanje, vučenje) modularnim mjeračem MMS PC2.
Mjerenje tankog filma maziva na limu (valjanje, prešanje, vučenje) modularnim mjeračem MMS PC2.
Mjerenje unutarnjeg polimernog zaštitnog sloja farmaceutske, kozmetičke i prehrambene ambalaže sondom vrtložnih struja FTA2.4-SC.
Mjerenje unutarnjeg polimernog zaštitnog sloja farmaceutske, kozmetičke i prehrambene ambalaže sondom vrtložnih struja FTA2.4-SC.
Mjerenje zaštitnog laka koji se na brojčanike nanosi ručno radi zaštite od oksidacije i tamnjenja.
Mjerenje zaštitnog laka koji se na brojčanike nanosi ručno radi zaštite od oksidacije i tamnjenja.
Normiranje i umjeravanje mjerača debljine, i kad nije dostupan neprevučen dio, te odabir odgovarajuće metode za najbolju točnost.
Normiranje i umjeravanje mjerača debljine, i kad nije dostupan neprevučen dio, te odabir odgovarajuće metode za najbolju točnost.
Nerazorno mjerenje više slojeva laka na metalu i plastici terahertz tehnologijom (THz-TDS): točnost, ponovljivost i prednosti pred indukcijom i ultrazvukom.
Pregled prijenosnih instrumenata za mjerenje debljine galvanskih slojeva, boja i anodnih slojeva te kvalitete brtvljenja (sealing) kod eloksiranog aluminija (PDF na slovenskom).
Istraživanje luženja aluminija u eloksirnici: odvajanje materijala prema vremenu, utjecaj koncentracija Al i NaOH te prirast težine nakon anodizacije (na slovenskom).
Bilješke s radionice o Betascopeu (beta raspršenje), Couloscopeu (kulometrijsko razslojavanje), MMS PC2, Sigmascope Gold B i Poroscopeu.
Prezentacija (55 stranica): analiza NiP višestrukim pobuđivanjem, analiza galvanskih kupki, Cr(III), laki elementi s helijskim ispiranjem i uzorci u prahu.
Pišite nam ili nas nazovite. Rado ćemo vas savjetovati.