Sadržaj fosfora u hemijskom niklu
Direktno merenje sadržaja fosfora u slojevima hemijskog nikla rendgenskom fluorescencijom; fosfor bitno utiče na mehanička i magnetna svojstva sloja.
Debljina slojeva, analiza galvanskih kupatila te boje i lakovi: od tankih metalnih slojeva do višeslojnih premaza.
Nema rezultata. Pokušajte sa drugom rečju.
Direktno merenje sadržaja fosfora u slojevima hemijskog nikla rendgenskom fluorescencijom; fosfor bitno utiče na mehanička i magnetna svojstva sloja.
Merenje debljine očvrslih praškastih premaza radi kontrole kvaliteta i smanjenja potrošnje praha kod izvođača i u ulaznoj kontroli.
Kontrola debljine suvog filma (DFT) prema specifikaciji SSPC-PA2 na mostovima, brodovima, cevovodima i rezervoarima vode.
Precizno merenje na zakrivljenim površinama posebnom sondom koja uklanja potrebu za etaloniranjem za svaki poluprečnik zakrivljenosti.
Precizno merenje na zakrivljenim površinama posebnom sondom koja uklanja potrebu za etaloniranjem za svaki poluprečnik zakrivljenosti.
Merenje antikorozivnih slojeva u teško dostupnim šupljinama karoserija zakrivljenom magnetno-induktivnom sondom.
Određivanje debljine višeslojnih metalnih slojeva na plastičnim kupatilskim armaturama, npr. tušu.
Određivanje debljine višeslojnih metalnih slojeva na plastičnim kupatilskim armaturama, npr. tušu.
Uređaj MMS PC2 sa USB, LAN i serijskim interfejsom i digitalnim U/I za nadzor procesa direktno u proizvodnji.
Merenje debljine raspršenih akustičnih slojeva u unutrašnjosti vozila sondom FA14 kompaktnog kolenastog oblika za uska mesta.
Inline merenjem slojevi se nanose što tanje unutar tolerancije, čime se kod zlata štedi materijal; primer sloja zlata 2–4 µm.
Inline merenjem slojevi se nanose što tanje unutar tolerancije, čime se kod zlata štedi materijal; primer sloja zlata 2–4 µm.
Merenje debljine laka prema jasno definisanim postupcima i prikupljanje podataka za optimizaciju procesa softverom DataCenter.
Merenje debljine laka prema jasno definisanim postupcima i prikupljanje podataka za optimizaciju procesa softverom DataCenter.
Rendgenska fluorescentna analiza rastvora u zatvorenoj ćeliji sa tankom folijom radi kontrole sastava galvanskih kupatila.
Rendgenska fluorescentna analiza rastvora u zatvorenoj ćeliji sa tankom folijom radi kontrole sastava galvanskih kupatila.
Merenje 60–70 µm debelih slojeva NiP (najmanje 10 % fosfora) na klipovima elektromagnetnih ventila u automatskim menjačima rendgenskom fluorescencijom.
Merenje 60–70 µm debelih slojeva NiP (najmanje 10 % fosfora) na klipovima elektromagnetnih ventila u automatskim menjačima rendgenskom fluorescencijom.
Nerazorno merenje debljine PVD slojeva na testerama, burgijama i alatima za oblikovanje rendgenskom fluorescencijom (XDLM).
Nerazorno merenje debljine PVD slojeva na testerama, burgijama i alatima za oblikovanje rendgenskom fluorescencijom (XDLM).
Kontrola galvanizovanih delova prema sopstvenim planovima merenja u programu DataCenter uz dokumentovane rezultate.
Kontrola galvanizovanih delova prema sopstvenim planovima merenja u programu DataCenter uz dokumentovane rezultate.
Merenje 25–50 µm debelih tvrdih slojeva Nikasil na kliznim površinama aluminijumskih cilindara motora.
Merenje 25–50 µm debelih tvrdih slojeva Nikasil na kliznim površinama aluminijumskih cilindara motora.
Merenje laka na pocinkovanom čeliku i aluminijumu (KTL/EDP) bez ponovnog etaloniranja uz kompenzaciju provodljivosti različitih aluminijumskih legura.
Merenje laka na pocinkovanom čeliku i aluminijumu (KTL/EDP) bez ponovnog etaloniranja uz kompenzaciju provodljivosti različitih aluminijumskih legura.
Pouzdano merenje debljine laka na sivom livu ili peskiranom čeliku, gde hrapavost podloge uzrokuje velika odstupanja očitavanja.
Pouzdano merenje debljine laka na sivom livu ili peskiranom čeliku, gde hrapavost podloge uzrokuje velika odstupanja očitavanja.
Merenje tankog filma maziva na limu (valjanje, presovanje, izvlačenje) modularnim meračem MMS PC2.
Merenje tankog filma maziva na limu (valjanje, presovanje, izvlačenje) modularnim meračem MMS PC2.
Merenje unutrašnjeg polimernog zaštitnog sloja farmaceutske, kozmetičke i prehrambene ambalaže sondom vrtložnih struja FTA2.4-SC.
Merenje unutrašnjeg polimernog zaštitnog sloja farmaceutske, kozmetičke i prehrambene ambalaže sondom vrtložnih struja FTA2.4-SC.
Merenje zaštitnog laka koji se na brojčanike nanosi ručno radi zaštite od oksidacije i tamnjenja.
Merenje zaštitnog laka koji se na brojčanike nanosi ručno radi zaštite od oksidacije i tamnjenja.
Normiranje i etaloniranje merača debljine, i kad nije dostupan neprevučen deo, te izbor odgovarajuće metode za najbolju tačnost.
Normiranje i etaloniranje merača debljine, i kad nije dostupan neprevučen deo, te izbor odgovarajuće metode za najbolju tačnost.
Nerazorno merenje više slojeva laka na metalu i plastici terahertz tehnologijom (THz-TDS): tačnost, ponovljivost i prednosti u odnosu na indukciju i ultrazvuk.
Pregled prenosnih instrumenata za merenje debljine galvanskih slojeva, boja i anodnih slojeva te kvaliteta zaptivanja (sealing) kod eloksiranog aluminijuma (PDF na slovenačkom).
Istraživanje luženja aluminijuma u eloksirnici: skidanje materijala prema vremenu, uticaj koncentracija Al i NaOH i prirast težine posle anodizacije (na slovenačkom).
Beleške sa radionice o Betascope-u (beta rasejanje), Couloscope-u (kulometrijsko razslojavanje), MMS PC2, Sigmascope Gold B i Poroscope-u.
Prezentacija (55 strana): analiza NiP višestrukim pobuđivanjem, analiza galvanskih kupatila, Cr(III), laki elementi sa helijumskim ispiranjem i uzorci u prahu.
Pišite nam ili nas pozovite. Rado ćemo vas posavetovati.