Labsys Ljubljana d.o.o.
OpremaRabljena opremaNajemSistemi in testiRešitveServisNaša zgodbaKontaktReferenceNovicePovpraševanje
SL
labsys@labsys.si · +386 1 2862 330
Rešitve

Nanosi, galvanotehnika in premazi

Debelina nanosov, analiza galvanskih kopeli ter barve in laki: od tankih kovinskih plasti do večslojnih premazov.

Vsebnost fosforja v kemičnem niklju

Neposredno merjenje vsebnosti fosforja v nanosih kemičnega niklja z rentgensko fluorescenco, ki vpliva na mehanske in magnetne lastnosti nanosa.

Merjenje debeline praškastih premazov po utrditvi

Merjenje debeline utrjenih praškastih premazov za nadzor kakovosti in zmanjšanje porabe praška pri izvajalcih in v prevzemni kontroli.

Merjenje zaščitnih premazov po SSPC-PA2

Kontrola debeline suhega filma (DFT) po specifikaciji SSPC-PA2 pri mostovih, ladjah, cevovodih in vodnih rezervoarjih.

Merjenje debeline premazov na aluminijastih žaluzijah

Natančno merjenje na ukrivljenih površinah z namensko sondo, ki odpravi umerjanje za vsak polmer ukrivljenosti.

Nedestruktivno merjenje CDP-nanosov v votlih delih karoserije

Merjenje antikorozijskih nanosov v težko dostopnih votlinah avtomobilskih karoserij z ukrivljeno magnetno indukcijsko sondo.

Merjenje nanosov Cr/Ni/Cu na plastiki

Določanje debeline večslojnih kovinskih nanosov na plastičnih kopalniških armaturah, npr. tušu.

Avtomatizirano merjenje debeline nanosov v proizvodnji

Naprava MMS PC2 z USB, LAN in serijskim vmesnikom ter digitalnimi V/I za nadzor procesa neposredno v proizvodnji.

Merjenje SAM-premazov (pršljivi akustični material) v avtomobilski industriji

Merjenje debeline akustičnih nanosov v avtomobilskih notranjostih s sondo FA14 in kompaktnim kolenastim oblikovanjem za ozka mesta.

Prihranki z inline merjenjem pri galvanizaciji s traka (reel-to-reel)

Z inline merjenjem se sloji nanašajo čim tanjši znotraj tolerance, kar pri zlatu prihrani material; primer nanosa zlata 2–4 µm.

Kontrola kakovosti laka na karoserijah z lastnimi kontrolnimi načrti

Merjenje debeline laka po jasno določenih postopkih in zbiranje podatkov za optimizacijo procesa s programom DataCenter.

Analiza kovinske vsebnosti galvanskih kopeli

Rentgenska fluorescenčna analiza raztopin v celici z zaščitno folijo za kontrolo sestave galvanskih kopeli.

Merjenje debelih nanosov NiP na avtomobilskih delih

Merjenje 60–70 µm debelih nanosov NiP (najmanj 10 % fosforja) na batkih elektromagnetnih ventilov v avtomatskih menjalnikih z rentgensko fluorescenco.

Določanje debeline PVD-prevlek na orodjih

Nedestruktivno merjenje debeline PVD-prevlek na žagah, svedrih in orodjih za preoblikovanje z rentgensko fluorescenco (XDLM).

Merjenje s prilagojenimi kontrolnimi načrti pri galvanizaciji na stojalih

Kontrola galvaniziranih delov po lastnih načrtih meritev z programom DataCenter in dokumentirani rezultati.

Merjenje nanosov Nikasil na aluminijastih cilindrih

Merjenje 25–50 µm debelih trdih nanosov Nikasil na tekalnih površinah aluminijastih cilindrov motorjev.

Merjenje dupleks nanosov v avtomobilski industriji

Merjenje laka na pocinkanem jeklu in aluminiju (KTL/EDP) brez ponovnega umerjanja; kompenzacija prevodnosti različnih aluminijastih zlitin.

Merjenje lakov na grobih površinah

Zanesljivo merjenje debeline laka na sivi litini ali peskani jekleni površini, kjer hrapavost podlage povzroča velika nihanja meritev.

Merjenje debeline maziv pri preoblikovanju pločevine brez odrezkov

Merjenje tankega filma maziva na pločevini (valjanje, stiskanje, vlečenje) z modularnim merilnikom MMS PC2.

Merjenje zaščitnih plasti v aluminijastih pločevinkah in tubah

Merjenje notranjega polimernega zaščitnega sloja pri farmacevtski, kozmetični in živilski embalaži z vrtinčnotokovno sondo FTA2.4-SC.

Debelina zaščitnih lakov na številčnicah ročnih ur

Merjenje zaščitnega laka, ki se na številčnice nanaša ročno, da se zaščiti pred oksidacijo in potemnitvijo.

Različne poti do veljavnih meritev debeline nanosov

Normiranje in umerjanje merilnika debeline, tudi kadar ni na voljo neprevlečenega izdelka, ter izbira ustrezne metode za najboljšo natančnost.

Terahertz: revolucija pri merjenju debeline večslojnih barv

Nedestruktivno merjenje več plasti laka na kovini in plastiki s terahercno tehnologijo (THz-TDS): natančnost, ponovljivost in prednosti pred indukcijo ter ultrazvokom.

Prenosni merilniki debeline nanosov Fischer (PERMASCOPE, DUALSCOPE, ANODICSCOPE)

Predstavitev prenosnih instrumentov za merjenje debeline galvanskih nanosov, barv in anodnih plasti ter kakovosti zapiranja (sealing) pri eloksaciji aluminija.

Kontrolno-tehnološki postopek anodizacije (diplomsko delo)

Raziskava luženja aluminija v eloksirnici: odvzem materiala glede na čas ter vpliv koncentracij Al in NaOH, s spremljanjem pridobitve teže po anodizaciji.

Gradivo delavnice Fischer 2013: klasične naprave

Zapiski z delavnice o betascopu (povratno sipanje beta), couloscopu (kulometrično razplaščevanje), MMS PC2, Sigmascope Gold B in Poroscope.

XRF delavnica F: osnovno usposabljanje

Prosojnice (55 strani): analiza NiP z večkratnim vzbujanjem, analiza galvanskih kopeli, Cr(III), lahki elementi s helijevim splakom ter prašni vzorci.

Zahtevajte dokument

Izpolnite obrazec. Zahtevo pregledamo in vam dokument pošljemo po e-pošti.

Imate vprašanje?

Pišite nam ali nas pokličite, z veseljem svetujemo.