FISCHERSCOPE X-RAY XDL / XDLM

FISCHERSCOPE X-RAY XDL / XDLM

FISCHERSCOPE X-RAY XDL, XDLM und XDAL sind energiedispersive Röntgenfluoreszenz-Geräte (ED-RFA) zur zerstörungsfreien Schichtdickenmessung und Materialanalyse. Mehrere Ausführungen mit unterschiedlichen Röntgenquellen, Filtern und Detektoren erlauben die Wahl des passenden Geräts für Ihre Messaufgabe.

Stärken

- einstellbarer Messabstand bis 80 mm, geeignet für Leiterplatten und unregelmäßig geformte Teile
- optional motorisierter XY-Tisch und Z-Achse für automatisierte Messungen
- XDAL mit Silizium-Drift-Detektor (SDD) und hoher Energieauflösung für sehr dünne Schichten

Anwendungen

- Schichtdicke auf großen Platten, flexiblen Leiterplatten und 3D-Proben
- Analyse galvanischer Bäder
- funktionale Schichten in Elektronik und Halbleitern, Hartstoffschichten (CrN, TiN, TiCN)

Technische Daten

Messverfahren

Energiedispersive Röntgenfluoreszenz (ED-RFA)

Messabstand

Einstellbar, bis 80 mm

Automatisierung

Optional motorisierter XY-Tisch und Z-Achse

Detektor

SDD beim Modell XDAL