FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB
Osnovna serija za štampane pločice: jednostavna merenja komponenti i malih struktura.
Više informacijaFISCHERSCOPE X-RAY XDL / XDLM
Rendgenski sistem za analizu sastava i debljine metalnih prevlaka.
FISCHERSCOPE X-RAY XDL / XDLM
FISCHERSCOPE X-RAY XDL, XDLM i XDAL su uređaji za energetski disperzivnu rendgensku fluorescenciju (ED-XRF), namenjeni nerazornom merenju debljine prevlaka i analizi sastava materijala. Više izvedbi sa različitim izvorima rendgenskih zraka, filterima i detektorima omogućava izbor uređaja koji odgovara vašem merenju.
Prednosti
- podesivo merno rastojanje do 80 mm, pogodno za štampane ploče i delove nepravilnog oblika
- opciono motorizovani XY sto i osa Z za automatizovana merenja
- XDAL ima detektor SDD visoke energetske rezolucije za veoma tanke slojeve
Primena
- debljina prevlaka na velikim pločama, savitljivim pločama i 3D uzorcima
- analiza galvanskih kupatila
- funkcionalne prevlake u elektronici i poluprovodnicima, tvrde prevlake (CrN, TiN, TiCN)
Tehnički podaci
- Merna metoda
- Energetski disperzivna rendgenska fluorescencija (ED-XRF)
- Merna udaljenost
- Podesivo, do 80 mm
- Automatizacija
- Opciono motorizovani XY sto i osa Z
- Detektor
- SDD kod modela XDAL
Slični proizvodi
FISCHERSCOPE X-RAY MODULAR CHAMBER
Merenje na velikim radnim komadima: velika posebna komora za integraciju Fischerove rendgenske merne tehnike.
Više informacija
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500
Prenosni ručni XRF analizator za terensku upotrebu: debljina prevlake i sastav materijala u jednom merenju.
Više informacijaZanima vas ovaj proizvod?
Pošaljite upit, a mi ćemo odgovoriti konkretnom ponudom ili savetom.