FISCHERSCOPE X-RAY XDL / XDLM

FISCHERSCOPE X-RAY XDL / XDLM

FISCHERSCOPE X-RAY XDL, XDLM i XDAL su uređaji za energetski disperzivnu rendgensku fluorescenciju (ED-XRF), namenjeni nerazornom merenju debljine prevlaka i analizi sastava materijala. Više izvedbi sa različitim izvorima rendgenskih zraka, filterima i detektorima omogućava izbor uređaja koji odgovara vašem merenju.

Prednosti

- podesivo merno rastojanje do 80 mm, pogodno za štampane ploče i delove nepravilnog oblika
- opciono motorizovani XY sto i osa Z za automatizovana merenja
- XDAL ima detektor SDD visoke energetske rezolucije za veoma tanke slojeve

Primena

- debljina prevlaka na velikim pločama, savitljivim pločama i 3D uzorcima
- analiza galvanskih kupatila
- funkcionalne prevlake u elektronici i poluprovodnicima, tvrde prevlake (CrN, TiN, TiCN)

Tehnički podaci

Merna metoda

Energetski disperzivna rendgenska fluorescencija (ED-XRF)

Merna udaljenost

Podesivo, do 80 mm

Automatizacija

Opciono motorizovani XY sto i osa Z

Detektor

SDD kod modela XDAL