FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB
Osnovna serija za tiskane pločice: jednostavna mjerenja komponenti i malih struktura.
Više informacijaFISCHERSCOPE X-RAY XDL / XDLM
Rendgenski sustav za analizu sastava i debljine metalnih prevlaka.
FISCHERSCOPE X-RAY XDL / XDLM
FISCHERSCOPE X-RAY XDL, XDLM i XDAL uređaji su za energijski disperzivnu rendgensku fluorescenciju (ED-XRF), namijenjeni nerazornom mjerenju debljine prevlaka i analizi sastava materijala. Više izvedbi s različitim izvorima rendgenskih zraka, filtrima i detektorima omogućuje odabir uređaja koji odgovara vašem mjerenju.
Prednosti
- podesiva mjerna udaljenost do 80 mm, prikladno za tiskane pločice i dijelove nepravilnog oblika
- po želji motorizirani XY stol i os Z za automatizirana mjerenja
- XDAL ima detektor SDD visoke energijske razlučivosti za vrlo tanke slojeve
Primjena
- debljina prevlaka na velikim pločama, savitljivim pločicama i 3D uzorcima
- analiza galvanskih kupki
- funkcionalne prevlake u elektronici i poluvodičima, tvrde prevlake (CrN, TiN, TiCN)
Tehnički podaci
- Mjerna metoda
- Rendgenska fluorescencija s energijskom disperzijom (ED-XRF)
- Mjerna udaljenost
- Namjestiva, do 80 mm
- Automatizacija
- Po želji motorizirani XY stol i os Z
- Detektor
- SDD kod modela XDAL
Slični proizvodi
FISCHERSCOPE X-RAY MODULAR CHAMBER
Mjerenje na velikim obratcima: velika posebna komora za integraciju Fischerove rendgenske mjerne tehnike.
Više informacija
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500
Prijenosni ručni XRF analizator za terensku uporabu: debljina prevlake i sastav materijala u jednom mjerenju.
Više informacijaZanima vas ovaj proizvod?
Pošaljite upit, a mi ćemo odgovoriti konkretnom ponudom ili savjetom.