FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB
Osnovna serija za tiskana vezja: preprosta merjenja komponent in majhnih struktur.
Več informacijFISCHERSCOPE X-RAY XDL / XDLM
Rentgenski sistem za analizo sestave in debeline kovinskih nanosov.
FISCHERSCOPE X-RAY XDL / XDLM
FISCHERSCOPE X-RAY XDL, XDLM in XDAL so energijsko disperzivni rentgenski fluorescenčni (ED-XRF) merilniki za neporušno merjenje debeline nanosov in analizo sestave materialov. Na voljo je več izvedb z različnimi viri rentgenskih žarkov, filtri in detektorji, zato lahko izberete napravo, ki ustreza vaši meritvi.
Prednosti
- nastavljiva merilna razdalja do 80 mm, primerno za tiskana vezja in dele nepravilnih oblik
- po želji motorizirana miza XY in os Z za avtomatizirane meritve
- XDAL ima detektor SDD z visoko energijsko ločljivostjo za zelo tanke plasti
Uporaba
- debelina nanosov na velikih ploščah, upogljivih vezjih in 3D vzorcih
- analiza galvanskih kopeli
- funkcionalni nanosi v elektroniki in polprevodnikih, trdi nanosi (CrN, TiN, TiCN)
Tehnični podatki
- Merilna metoda
- Energijsko disperzivna rentgenska fluorescenca (ED-XRF)
- Merilna razdalja
- Nastavljiva, do 80 mm
- Avtomatizacija
- Po želji motorizirana miza XY in os Z
- Detektor
- SDD pri modelu XDAL
Podobni izdelki
FISCHERSCOPE X-RAY MODULAR CHAMBER
Merjenje na velikih obdelovancih: velika posebna komora za integracijo Fischerjeve rentgenske merilne tehnike.
Več informacij
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500
Prenosni ročni XRF analizator za terensko uporabo: debelina nanosov in sestava materiala v eni meritvi.
Več informacijZanima vas ta izdelek?
Pošljite povpraševanje in odgovorili vam bomo s konkretno ponudbo ali svetovanjem.