FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600
Tanki slojevi, elementi u tragovima i legure: univerzalni XRF za najmanje strukture i prevlake do 0,1 µm.
Više informacijaUniverzalni XRF za male strukture, višeslojne i funkcionalne prevlake te tanke slojeve ispod 0,1 µm.

XDAL-PCB univerzalni je XRF uređaj za mjerenje malih struktura, višeslojnih i funkcionalnih prevlaka te tankih slojeva ispod 0,1 µm, među ostalim na tiskanim pločicama.
- 4 izmjenjive blende i 3 izmjenjiva filtra
- Velik silicijski driftni detektor za vrlo dobru točnost detekcije i visoku razlučivost
Tanki slojevi, elementi u tragovima i legure: univerzalni XRF za najmanje strukture i prevlake do 0,1 µm.
Više informacijaUniverzalni XRF uređaj za automatsko mjerenje tankih i vrlo tankih slojeva ispod 0,05 µm te analizu u ppm području.
Više informacijaNajbolji detektori za tanke slojeve: stolni XRF uređaj za prevlake ispod 0,05 µm i analizu u ppm području.
Više informacijaPošaljite upit, a mi ćemo odgovoriti konkretnom ponudom ili savjetom.