FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600
Tanki slojevi, elementi u tragovima i legure: univerzalni XRF za najmanje strukture i prevlake do 0,1 µm.
Više informacijaUniverzalni XRF uređaj za automatsko mjerenje tankih i vrlo tankih slojeva ispod 0,05 µm te analizu u ppm području.

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL univerzalni je uređaj za automatsko mjerenje tankih i vrlo tankih slojeva ispod 0,05 µm te za analizu materijala u ppm području.
- Podešavanje mjerne udaljenosti patentiranom metodom DCM
- Tipski odobren uređaj s potpunom zaštitom: siguran rad bez dodatnih mjera
- Potpuno automatizirljiv
Tanki slojevi, elementi u tragovima i legure: univerzalni XRF za najmanje strukture i prevlake do 0,1 µm.
Više informacijaUniverzalni XRF za male strukture, višeslojne i funkcionalne prevlake te tanke slojeve ispod 0,1 µm.
Više informacijaNajbolji detektori za tanke slojeve: stolni XRF uređaj za prevlake ispod 0,05 µm i analizu u ppm području.
Više informacijaPošaljite upit, a mi ćemo odgovoriti konkretnom ponudom ili savjetom.