FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600
Tanki slojevi, elementi u tragovima i legure: univerzalni XRF za najmanje strukture i prevlake do 0,1 µm.
Više informacijaUniverzalni XRF za male strukture, višeslojne i funkcionalne prevlake i tanke slojeve ispod 0,1 µm.

XDAL-PCB univerzalni je XRF uređaj za merenje malih struktura, višeslojnih i funkcionalnih prevlaka i tankih slojeva ispod 0,1 µm, među ostalim na štampanim pločicama.
- 4 izmenljive blende i 3 izmenljiva filtera
- Velik silicijski driftni detektor za vrlo dobru tačnost detekcije i visoku rezoluciju
Tanki slojevi, elementi u tragovima i legure: univerzalni XRF za najmanje strukture i prevlake do 0,1 µm.
Više informacijaUniverzalni XRF uređaj za automatsko merenje tankih i vrlo tankih slojeva ispod 0,05 µm i analizu u ppm opsegu.
Više informacijaNajbolji detektori za tanke slojeve: stoni XRF uređaj za prevlake ispod 0,05 µm i analizu u ppm opsegu.
Više informacijaPošaljite upit, a mi ćemo odgovoriti konkretnom ponudom ili savetom.