FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600
Tanki sloji, elementi v sledeh in zlitine: univerzalni XRF za najmanjše strukture in nanose do 0,1 µm.
Več informacijFISCHERSCOPE X-RAY XDAL
Univerzalni XRF merilnik za samodejno merjenje tankih in zelo tankih slojev pod 0,05 µm ter analizo v območju ppm.
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL je univerzalen merilnik za avtomatizirano merjenje tankih in zelo tankih slojev pod 0,05 µm ter za analizo materialov v območju ppm.
Ključne lastnosti
- Nastavitev merilne razdalje s patentirano metodo DCM
- Tipsko odobrena popolna zaščita: varno delovanje brez dodatnih ukrepov
- Popolnoma avtomatizirljiv
Tehnični podatki
- Merilna metoda
- Rentgenska fluorescenca (XRF)
- Debelina nanosov
- Pod 0,05 µm
Podobni izdelki
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL-PCB
Univerzalni XRF za majhne strukture, večslojne in funkcionalne nanose ter tanke sloje pod 0,1 µm.
Več informacij
FISCHERSCOPE XDAL
Najboljši detektorji za tanke sloje: namizni XRF merilnik za nanose pod 0,05 µm in analizo v območju ppm.
Več informacijZanima vas ta izdelek?
Pošljite povpraševanje in odgovorili vam bomo s konkretno ponudbo ali svetovanjem.