FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600
Tanki slojevi, elementi u tragovima i legure: univerzalni XRF za najmanje strukture i prevlake do 0,1 µm.
Više informacijaUniverzalni XRF uređaj za automatsko merenje tankih i vrlo tankih slojeva ispod 0,05 µm i analizu u ppm opsegu.

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL univerzalni je uređaj za automatsko merenje tankih i vrlo tankih slojeva ispod 0,05 µm i za analizu materijala u ppm opsegu.
- Podešavanje merne udaljenosti patentiranom metodom DCM
- Tipski odobren uređaj s potpunom zaštitom: siguran rad bez dodatnih mera
- Moguća potpuna automatizacija
Tanki slojevi, elementi u tragovima i legure: univerzalni XRF za najmanje strukture i prevlake do 0,1 µm.
Više informacijaUniverzalni XRF za male strukture, višeslojne i funkcionalne prevlake i tanke slojeve ispod 0,1 µm.
Više informacijaNajbolji detektori za tanke slojeve: stoni XRF uređaj za prevlake ispod 0,05 µm i analizu u ppm opsegu.
Više informacijaPošaljite upit, a mi ćemo odgovoriti konkretnom ponudom ili savetom.