FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600
Tanki sloji, elementi v sledeh in zlitine: univerzalni XRF za najmanjše strukture in nanose do 0,1 µm.
Več informacijFISCHERSCOPE XDAL
Najboljši detektorji za tanke sloje: namizni XRF merilnik za nanose pod 0,05 µm in analizo v območju ppm.
FISCHERSCOPE XDAL
FISCHERSCOPE XDAL je inovativen namizni merilnik za merjenje debeline zelo tankih in kompleksnih nanosov, tudi pod 0,05 µm, ter za analizo materialov v območju ppm. Nova generacija združuje hitro Z-os, boljšo kamero in programsko opremo FISIQ X.
Ključne lastnosti
- Visoko natančni in ponovljivi rezultati zaradi optimizirane merilne geometrije
- Hitra Z-os za pozicioniranje vzorca
- Programska oprema FISIQ X: sodoben vmesnik, vodeni postopki merjenja in pospešena analiza
Tehnični podatki
- Samodejno ostrenje
- v manj kot 2 s (14× hitreje*)
- Os Z
- Visokohitrostna (6× hitrejša*)
- Kamera
- 10× višja ločljivost*, večconska LED osvetlitev
- Pokrov
- Samodejen ali ročni
- Indikator stanja
- 180° svetlobni indikator
- Debeline slojev
- Tanki in zelo tanki sloji < 0,05 μm
- Veliki vzorci
- Reža C v pokrovu za velike dele
- Programska oprema
- FISIQ X
- Opomba
- * v primerjavi s predhodnim modelom
Podobni izdelki
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL-PCB
Univerzalni XRF za majhne strukture, večslojne in funkcionalne nanose ter tanke sloje pod 0,1 µm.
Več informacij
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL
Univerzalni XRF merilnik za samodejno merjenje tankih in zelo tankih slojev pod 0,05 µm ter analizo v območju ppm.
Več informacijZanima vas ta izdelek?
Pošljite povpraševanje in odgovorili vam bomo s konkretno ponudbo ali svetovanjem.