FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600
Tanki slojevi, elementi u tragovima i legure: univerzalni XRF za najmanje strukture i prevlake do 0,1 µm.
Više informacijaFISCHERSCOPE XDAL
Najbolji detektori za tanke slojeve: stoni XRF uređaj za prevlake ispod 0,05 µm i analizu u ppm opsegu.
FISCHERSCOPE XDAL
FISCHERSCOPE XDAL inovativan je stoni uređaj za merenje debljine vrlo tankih i složenih prevlaka, i ispod 0,05 µm, i za analizu materijala u ppm opsegu. Nova generacija objedinjuje brzu Z-osu, poboljšanu kameru i softver FISIQ X.
Ključna svojstva
- Vrlo precizni i ponovljivi rezultati zahvaljujući optimizovanoj mernoj geometriji
- Brza Z-osa za pozicioniranje uzorka
- Softver FISIQ X: moderan interfejs, vođeni postupci merenja i brža analiza
Tehnički podaci
- Automatsko fokusiranje
- za manje od 2 s (14× brže*)
- Os Z
- Velike brzine (6× brža*)
- Kamera
- 10× veća rezolucija*, višezonsko LED osvetljenje
- Poklopac
- Automatski ili ručni
- Indikator stanja
- 180° svetlosni indikator
- Raspon debljina slojeva
- Tanki i vrlo tanki slojevi < 0,05 μm
- Veliki uzorci
- C-utor za velike delove
- Softver
- FISIQ X
- Napomena
- * u usporedbi s prethodnim modelom
Slični proizvodi
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL-PCB
Univerzalni XRF za male strukture, višeslojne i funkcionalne prevlake i tanke slojeve ispod 0,1 µm.
Više informacija
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL
Univerzalni XRF uređaj za automatsko merenje tankih i vrlo tankih slojeva ispod 0,05 µm i analizu u ppm opsegu.
Više informacijaZanima vas ovaj proizvod?
Pošaljite upit, a mi ćemo odgovoriti konkretnom ponudom ili savetom.