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Helmut Fischer · Analytik

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ LD

Kleinster Messfleck bei größtem Messabstand: für die Messung kleinster Bauteile.

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ LD

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ LD

Das XDV-µ LD ist ein hochwertiges RFA-Messgerät mit Polykapillar-Röntgenoptik zur Messung kleinster Bauteile mit kleinstem Messfleck und größtem Messabstand seiner Klasse.

Wichtigste Merkmale

- Polykapillaroptik aus eigener Fertigung: Fischer ist der einzige RFA-Hersteller mit eigener Produktion von Polykapillarlinsen
- DPP+-Signalverarbeitung: bis zu 50 % bessere Wiederholpräzision oder deutlich kürzere Messzeiten

Technische Daten

Messfleck
Ab 35 µm
Messabstand
12 mm (Bestwert seiner Klasse)
Messverfahren
Röntgenfluoreszenz (RFA)

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