FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ
Najmanja merna tačka i najviša preciznost: za sitne, ravne komponente i višeslojne sisteme.
Više informacijaFISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ LD
Najmanja merna tačka pri najvećoj mernoj udaljenosti: za merenje najmanjih komponenti.
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ LD
XDV-µ LD vrhunski je XRF uređaj sa polikapilarnom rendgenskom optikom za merenje najmanjih komponenti s najmanjom mernom tačkom i najvećom mernom udaljenošću u svojoj klasi.
Ključna svojstva
- Polikapilarna optika sopstvene proizvodnje: Fischer je jedini proizvođač XRF uređaja sa sopstvenom proizvodnjom polikapilarnih leća
- DPP+ obrada signala: do 50 % bolja ponovljivost ili znatno kraće vreme merenja
Tehnički podaci
- Merna tačka
- Od 35 µm
- Merna udaljenost
- 12 mm (najbolje u klasi)
- Metoda merenja
- Rendgenska fluorescencija (XRF)
Slični proizvodi
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB
Profesionalna serija za štampane pločice: pouzdano i potpuno automatsko merenje najmanjih struktura.
Više informacija
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ WAFER
Specijalizovano rešenje za automatsko merenje tankih slojeva i višeslojnih sistema na pločicama (wafer) od 6 do 12 inča.
Više informacijaZanima vas ovaj proizvod?
Pošaljite upit, a mi ćemo odgovoriti konkretnom ponudom ili savetom.