FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ
Najmanjša merilna pega in najvišja natančnost: za majhne ploske komponente in večslojne sisteme.
Več informacijFISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ LD
Najmanjša merilna pega pri največji merilni razdalji: za merjenje najmanjših komponent.
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ LD
XDV-µ LD je vrhunski XRF merilnik s polikapilarno optiko za merjenje najmanjših komponent z najmanjšo merilno pego in največjo merilno razdaljo v svojem razredu.
Ključne lastnosti
- Polikapilarna optika lastne proizvodnje: Fischer je edini proizvajalec XRF merilnikov z lastno proizvodnjo polikapilarnih leč
- DPP+ procesiranje signala: do 50 % boljša ponovljivost ali občutno krajši merilni časi
Tehnični podatki
- Merilna pega
- Od 35 µm
- Merilna razdalja
- 12 mm (najboljše v razredu)
- Merilna metoda
- Rentgenska fluorescenca (XRF)
Podobni izdelki
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB
Profesionalna serija za tiskana vezja: zanesljivo in popolnoma samodejno merjenje najmanjših struktur.
Več informacij
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ WAFER
Specializirana rešitev za samodejno merjenje tankih plasti in večslojnih sistemov na rezinah (wafer) 6–12 palcev.
Več informacijZanima vas ta izdelek?
Pošljite povpraševanje in odgovorili vam bomo s konkretno ponudbo ali svetovanjem.