FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ LD
Kleinster Messfleck bei größtem Messabstand: für die Messung kleinster Bauteile.
Mehr erfahrenKleinster Messfleck, höchste Präzision: für sehr kleine, flache Bauteile und Mehrschichtsysteme.

Das FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ ist ein Universalgerät zur Messung an sehr kleinen, flachen Bauteilen und Strukturen sowie an komplexen Mehrschichtsystemen. Polykapillaroptiken sorgen für einen sehr kleinen Messfleck.
- Polykapillaroptik aus eigener Fertigung: Fischer ist der einzige RFA-Hersteller mit eigener Produktion von Polykapillarlinsen
- DPP+-Signalverarbeitung: bis zu 50 % bessere Wiederholpräzision oder deutlich kürzere Messzeiten
- Drei Optikvarianten für unterschiedliche Aufgaben
- FISIQ-X-Software: moderne Oberfläche, geführte Abläufe und schnellere Auswertung
Kleinster Messfleck bei größtem Messabstand: für die Messung kleinster Bauteile.
Mehr erfahrenDie professionelle Serie für Leiterplatten: zuverlässiges, vollautomatisches Messen kleinster Strukturen.
Mehr erfahrenSpezialisierte Lösung für die automatisierte Messung dünner Schichten und Mehrschichtsysteme auf Wafern von 6 bis 12 Zoll.
Mehr erfahrenSenden Sie eine Anfrage, und wir antworten mit einem konkreten Angebot oder einer Beratung.