FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ
Najmanja mjerna točka i najviša preciznost: za sitne, plosnate komponente i višeslojne sustave.
Više informacijaFISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ LD
Najmanja mjerna točka pri najvećoj mjernoj udaljenosti: za mjerenje najmanjih komponenti.
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ LD
XDV-µ LD vrhunski je XRF uređaj s polikapilarnom rendgenskom optikom za mjerenje najmanjih komponenti s najmanjom mjernom točkom i najvećom mjernom udaljenošću u svojoj klasi.
Ključna svojstva
- Polikapilarna optika vlastite proizvodnje: Fischer je jedini proizvođač XRF uređaja s vlastitom proizvodnjom polikapilarnih leća
- DPP+ obrada signala: do 50 % bolja ponovljivost ili znatno kraće vrijeme mjerenja
Tehnički podaci
- Mjerna točka
- Od 35 µm
- Mjerna udaljenost
- 12 mm (najbolje u klasi)
- Metoda mjerenja
- Rendgenska fluorescencija (XRF)
Slični proizvodi
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB
Profesionalna serija za tiskane pločice: pouzdano i potpuno automatsko mjerenje najmanjih struktura.
Više informacija
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ WAFER
Specijalizirano rješenje za automatsko mjerenje tankih slojeva i višeslojnih sustava na pločicama (wafer) od 6 do 12 inča.
Više informacijaZanima vas ovaj proizvod?
Pošaljite upit, a mi ćemo odgovoriti konkretnom ponudom ili savjetom.