FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ LD
Najmanjša merilna pega pri največji merilni razdalji: za merjenje najmanjših komponent.
Več informacijFISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ
Najmanjša merilna pega in najvišja natančnost: za majhne ploske komponente in večslojne sisteme.
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ je univerzalen merilnik za merjenje na zelo majhnih in ploskih komponentah in strukturah ter na kompleksnih večslojnih sistemih. Polikapilarna optika omogoča zelo majhno merilno pego.
Ključne lastnosti
- Polikapilarna optika lastne proizvodnje: Fischer je edini proizvajalec XRF merilnikov z lastno proizvodnjo polikapilarnih leč
- DPP+ procesiranje signala: do 50 % boljša ponovljivost ali občutno krajši merilni časi
- Tri izvedbe optike za različne naloge
- Programska oprema FISIQ X: sodoben vmesnik, vodeni postopki merjenja in pospešena analiza
Tehnični podatki
- Merilna metoda
- Rentgenska fluorescenca (XRF)
- Optika
- Polikapilarna: 10 µm brez haloja, 20 µm brez haloja ali 20 µm s halojem
- Detektor
- SDD
Podobni izdelki
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB
Profesionalna serija za tiskana vezja: zanesljivo in popolnoma samodejno merjenje najmanjših struktur.
Več informacij
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ WAFER
Specializirana rešitev za samodejno merjenje tankih plasti in večslojnih sistemov na rezinah (wafer) 6–12 palcev.
Več informacijZanima vas ta izdelek?
Pošljite povpraševanje in odgovorili vam bomo s konkretno ponudbo ali svetovanjem.