FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ LD
Najmanja mjerna točka pri najvećoj mjernoj udaljenosti: za mjerenje najmanjih komponenti.
Više informacijaFISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ
Najmanja mjerna točka i najviša preciznost: za sitne, plosnate komponente i višeslojne sustave.
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ univerzalni je uređaj za mjerenje na vrlo malim i plosnatim komponentama i strukturama te na složenim višeslojnim sustavima. Polikapilarna optika daje vrlo malu mjernu točku.
Ključna svojstva
- Polikapilarna optika vlastite proizvodnje: Fischer je jedini proizvođač XRF uređaja s vlastitom proizvodnjom polikapilarnih leća
- DPP+ obrada signala: do 50 % bolja ponovljivost ili znatno kraće vrijeme mjerenja
- Tri izvedbe optike za različite zadatke
- Softver FISIQ X: moderno sučelje, vođeni postupci mjerenja i brža analiza
Tehnički podaci
- Metoda mjerenja
- Rendgenska fluorescencija (XRF)
- Optika
- Polikapilarna: 10 µm bez haloa, 20 µm bez haloa ili 20 µm s haloom
- Detektor
- SDD
Slični proizvodi
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB
Profesionalna serija za tiskane pločice: pouzdano i potpuno automatsko mjerenje najmanjih struktura.
Više informacija
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ WAFER
Specijalizirano rješenje za automatsko mjerenje tankih slojeva i višeslojnih sustava na pločicama (wafer) od 6 do 12 inča.
Više informacijaZanima vas ovaj proizvod?
Pošaljite upit, a mi ćemo odgovoriti konkretnom ponudom ili savjetom.