FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ LD
Najmanja merna tačka pri najvećoj mernoj udaljenosti: za merenje najmanjih komponenti.
Više informacijaFISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ
Najmanja merna tačka i najviša preciznost: za sitne, ravne komponente i višeslojne sisteme.
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ univerzalni je uređaj za merenje na vrlo malim i ravnim komponentama i strukturama i na složenim višeslojnim sistemima. Polikapilarna optika daje vrlo malu mernu tačku.
Ključna svojstva
- Polikapilarna optika sopstvene proizvodnje: Fischer je jedini proizvođač XRF uređaja sa sopstvenom proizvodnjom polikapilarnih leća
- DPP+ obrada signala: do 50 % bolja ponovljivost ili znatno kraće vreme merenja
- Tri varijante optike za različite zadatke
- Softver FISIQ X: moderan interfejs, vođeni postupci merenja i brža analiza
Tehnički podaci
- Metoda merenja
- Rendgenska fluorescencija (XRF)
- Optika
- Polikapilarna: 10 µm bez haloa, 20 µm bez haloa ili 20 µm sa haloom
- Detektor
- SDD
Slični proizvodi
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB
Profesionalna serija za štampane pločice: pouzdano i potpuno automatsko merenje najmanjih struktura.
Više informacija
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ WAFER
Specijalizovano rešenje za automatsko merenje tankih slojeva i višeslojnih sistema na pločicama (wafer) od 6 do 12 inča.
Više informacijaZanima vas ovaj proizvod?
Pošaljite upit, a mi ćemo odgovoriti konkretnom ponudom ili savetom.