FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ
Kleinster Messfleck, höchste Präzision: für sehr kleine, flache Bauteile und Mehrschichtsysteme.
Mehr erfahrenLeistungsstarkes Universal-RFA-Gerät für sehr dünne oder komplexe Schichten und RoHS-Screening mit sehr niedrigen Nachweisgrenzen.

Das FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD ist ein hochwertiger Allrounder für die Prüfung sehr dünner oder komplexer Schichten und für RoHS-Screening bei sehr niedrigen Nachweisgrenzen.
- DPP+-Signalverarbeitung: bis zu 50 % bessere Wiederholpräzision oder deutlich kürzere Messzeiten
- 4-fach wechselbare Blenden
- 6-fach wechselbare Filter
- WinFTM-Software: umfassende Unterstützung für Messung, Kalibrierung und statistische Auswertung
Kleinster Messfleck, höchste Präzision: für sehr kleine, flache Bauteile und Mehrschichtsysteme.
Mehr erfahrenKleinster Messfleck bei größtem Messabstand: für die Messung kleinster Bauteile.
Mehr erfahrenDie professionelle Serie für Leiterplatten: zuverlässiges, vollautomatisches Messen kleinster Strukturen.
Mehr erfahrenSenden Sie eine Anfrage, und wir antworten mit einem konkreten Angebot oder einer Beratung.