FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ
Najmanja mjerna točka i najviša preciznost: za sitne, plosnate komponente i višeslojne sustave.
Više informacijaFISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD
Moćan univerzalni XRF uređaj za vrlo tanke ili složene slojeve i RoHS probir s vrlo niskim granicama detekcije.
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD vrhunski je svestrani uređaj za kontrolu vrlo tankih ili složenih slojeva i RoHS probir pri vrlo niskim granicama detekcije.
Ključna svojstva
- DPP+ obrada signala: do 50 % bolja ponovljivost ili znatno kraće vrijeme mjerenja
- 4 izmjenjive blende
- 6 izmjenjivih filtara
- Softver WinFTM: cjelovita podrška za mjerenje, kalibraciju i statističku analizu
Tehnički podaci
- Metoda mjerenja
- Rendgenska fluorescencija (XRF)
- Detektor
- Silicijski driftni detektor (SDD)
- Primjena
- Tanki slojevi, RoHS probir
Slični proizvodi
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ LD
Najmanja mjerna točka pri najvećoj mjernoj udaljenosti: za mjerenje najmanjih komponenti.
Više informacija
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB
Profesionalna serija za tiskane pločice: pouzdano i potpuno automatsko mjerenje najmanjih struktura.
Više informacijaZanima vas ovaj proizvod?
Pošaljite upit, a mi ćemo odgovoriti konkretnom ponudom ili savjetom.