FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ
Najmanjša merilna pega in najvišja natančnost: za majhne ploske komponente in večslojne sisteme.
Več informacijFISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD
Zmogljiv univerzalni XRF merilnik za zelo tanke ali kompleksne sloje in RoHS presejanje z nizkimi mejami zaznave.
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD je vrhunski vsestranski merilnik za pregled zelo tankih ali kompleksnih slojev in za RoHS presejanje pri zelo nizkih mejah zaznave.
Ključne lastnosti
- DPP+ procesiranje signala: do 50 % boljša ponovljivost ali občutno krajši merilni časi
- 4 zamenljive zaslonke
- 6 zamenljivih filtrov
- Programska oprema WinFTM: celovita podpora merjenju, kalibraciji in statistični analizi
Tehnični podatki
- Merilna metoda
- Rentgenska fluorescenca (XRF)
- Detektor
- Silicijev driftni detektor (SDD)
- Uporaba
- Tanki sloji, RoHS presejanje
Podobni izdelki
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ LD
Najmanjša merilna pega pri največji merilni razdalji: za merjenje najmanjših komponent.
Več informacij
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB
Profesionalna serija za tiskana vezja: zanesljivo in popolnoma samodejno merjenje najmanjših struktur.
Več informacijZanima vas ta izdelek?
Pošljite povpraševanje in odgovorili vam bomo s konkretno ponudbo ali svetovanjem.