FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ
Najmanja merna tačka i najviša preciznost: za sitne, ravne komponente i višeslojne sisteme.
Više informacijaFISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD
Moćan univerzalni XRF uređaj za vrlo tanke ili složene slojeve i RoHS probir s vrlo niskim granicama detekcije.
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD vrhunski je svestrani uređaj za kontrolu vrlo tankih ili složenih slojeva i RoHS probir pri vrlo niskim granicama detekcije.
Ključna svojstva
- DPP+ obrada signala: do 50 % bolja ponovljivost ili znatno kraće vreme merenja
- 4 izmenljive blende
- 6 izmenljivih filtera
- Softver WinFTM: celovita podrška za merenje, kalibraciju i statističku analizu
Tehnički podaci
- Metoda merenja
- Rendgenska fluorescencija (XRF)
- Detektor
- Silicijski driftni detektor (SDD)
- Primena
- Tanki slojevi, RoHS probir
Slični proizvodi
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ LD
Najmanja merna tačka pri najvećoj mernoj udaljenosti: za merenje najmanjih komponenti.
Više informacija
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB
Profesionalna serija za štampane pločice: pouzdano i potpuno automatsko merenje najmanjih struktura.
Više informacijaZanima vas ovaj proizvod?
Pošaljite upit, a mi ćemo odgovoriti konkretnom ponudom ili savetom.