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Helmut Fischer · Analytik

FISCHERSCOPE XDV

Tischgerät der neuen Generation für sehr dünne und komplexe Schichten sowie Materialanalyse im ppm-Bereich.

FISCHERSCOPE XDV

FISCHERSCOPE XDV

Das FISCHERSCOPE XDV ist ein hochwertiges Allround-Tischgerät der Röntgenfluoreszenz zur Schichtdickenmessung sehr dünner und komplexer Schichten, auch im Nanometerbereich, sowie zur Materialanalyse im ppm-Bereich. Die neue Generation ist auf Geschwindigkeit, Präzision und einfache Bedienung ausgelegt.

Wichtigste Merkmale

- Die Z-Achse zur Probenpositionierung ist bis zu 6-mal schneller (im Vergleich zum XDV-SDD)
- Autofokus in unter 2 Sekunden
- Automatische oder manuelle Haube für flexible Bedienung
- Kamera mit 10-fach höherer Auflösung und Multizonen-LED-Beleuchtung
- Optimierte Messgeometrie für hochpräzise, wiederholbare Ergebnisse
- 180°-Statuslicht, das den Gerätezustand stets anzeigt
- FISIQ-X-Software: moderne Oberfläche, geführte Abläufe und schnellere Auswertung

Technische Daten

Autofokus
in unter 2 s (14× schneller*)
Z-Achse
Hochgeschwindigkeits-Z-Achse (6× schneller*)
Kamera
10× höhere Auflösung*, Multizonen-LED-Beleuchtung
Haube
Automatisch oder manuell
Statusanzeige
180°-Statusleuchte
Schichtbereich
Dünne und sehr dünne Schichten < 0,05 μm
Software
FISIQ X
Hinweis
* im Vergleich zum Vorgängermodell

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