FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ
Kleinster Messfleck, höchste Präzision: für sehr kleine, flache Bauteile und Mehrschichtsysteme.
Mehr erfahrenTischgerät der neuen Generation für sehr dünne und komplexe Schichten sowie Materialanalyse im ppm-Bereich.

Das FISCHERSCOPE XDV ist ein hochwertiges Allround-Tischgerät der Röntgenfluoreszenz zur Schichtdickenmessung sehr dünner und komplexer Schichten, auch im Nanometerbereich, sowie zur Materialanalyse im ppm-Bereich. Die neue Generation ist auf Geschwindigkeit, Präzision und einfache Bedienung ausgelegt.
- Die Z-Achse zur Probenpositionierung ist bis zu 6-mal schneller (im Vergleich zum XDV-SDD)
- Autofokus in unter 2 Sekunden
- Automatische oder manuelle Haube für flexible Bedienung
- Kamera mit 10-fach höherer Auflösung und Multizonen-LED-Beleuchtung
- Optimierte Messgeometrie für hochpräzise, wiederholbare Ergebnisse
- 180°-Statuslicht, das den Gerätezustand stets anzeigt
- FISIQ-X-Software: moderne Oberfläche, geführte Abläufe und schnellere Auswertung
Kleinster Messfleck, höchste Präzision: für sehr kleine, flache Bauteile und Mehrschichtsysteme.
Mehr erfahrenKleinster Messfleck bei größtem Messabstand: für die Messung kleinster Bauteile.
Mehr erfahrenDie professionelle Serie für Leiterplatten: zuverlässiges, vollautomatisches Messen kleinster Strukturen.
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