FISCHERSCOPE XDV

FISCHERSCOPE XDV

FISCHERSCOPE XDV vrhunski je svestrani stoni uređaj rendgenske fluorescencije za merenje debljine vrlo tankih i složenih prevlaka, i u nanometarskom opsegu, i za analizu materijala u ppm opsegu. Nova generacija izrađena je za brzinu, preciznost i jednostavno korišćenje.

Ključna svojstva

- Z-osa za pozicioniranje uzorka je do 6 puta brža (u poređenju sa XDV-SDD)
- Automatsko fokusiranje za manje od 2 sekunde
- Automatski ili ručni poklopac za fleksibilan rad
- Kamera sa 10 puta većom rezolucijom i višezonsko LED osvetljenje
- Optimizovana merna geometrija za vrlo precizne i ponovljive rezultate
- 180° statusno svetlo koje uvek prikazuje stanje uređaja
- Softver FISIQ X: moderan interfejs, vođeni postupci merenja i brža analiza

Tehnički podaci

Automatsko fokusiranje

za manje od 2 s (14× brže*)

Os Z

Velike brzine (6× brža*)

Kamera

10× veća rezolucija*, višezonsko LED osvetljenje

Poklopac

Automatski ili ručni

Indikator stanja

180° svetlosni indikator

Raspon debljina slojeva

Tanki i vrlo tanki slojevi < 0,05 μm

Softver

FISIQ X

Napomena

* u usporedbi s prethodnim modelom