FISCHERSCOPE XDV

FISCHERSCOPE XDV

FISCHERSCOPE XDV je vrhunski vsestranski namizni rentgenski fluorescenčni merilnik za merjenje debeline zelo tankih in kompleksnih nanosov, tudi v nanometrskem območju, ter za analizo materialov v območju ppm. Nova generacija je zasnovana za hitrost, natančnost in preprosto uporabo.

Ključne lastnosti

- Z-os za pozicioniranje vzorca je do 6-krat hitrejša (v primerjavi z XDV-SDD)
- Samodejno ostrenje v manj kot 2 sekundah
- Samodejni ali ročni pokrov za prilagodljivo delo
- Kamera z 10-krat večjo ločljivostjo in večconska LED osvetlitev
- Optimizirana merilna geometrija za visoko natančne in ponovljive rezultate
- 180° statusna svetloba, ki vedno kaže stanje naprave
- Programska oprema FISIQ X: sodoben vmesnik, vodeni postopki merjenja in pospešena analiza

Tehnični podatki

Samodejno ostrenje

v manj kot 2 s (14× hitreje*)

Os Z

Visokohitrostna (6× hitrejša*)

Kamera

10× višja ločljivost*, večconska LED osvetlitev

Pokrov

Samodejen ali ročni

Indikator stanja

180° svetlobni indikator

Debeline slojev

Tanki in zelo tanki sloji < 0,05 μm

Programska oprema

FISIQ X

Opomba

* v primerjavi s predhodnim modelom