Labsys Ljubljana d.o.o.
OpremaRabljena opremaNajamSustavi i testoviRješenjaServisNaša pričaKontaktReferenceNovostiUpit
HR
labsys@labsys.si · +386 1 2862 330
Helmut Fischer · Analitika

FISCHERSCOPE XDV

Stolni XRF uređaj nove generacije za vrlo tanke i zahtjevne prevlake te analizu materijala u ppm području.

FISCHERSCOPE XDV

FISCHERSCOPE XDV

FISCHERSCOPE XDV vrhunski je svestrani stolni uređaj rendgenske fluorescencije za mjerenje debljine vrlo tankih i složenih prevlaka, i u nanometarskom području, te za analizu materijala u ppm području. Nova generacija izrađena je za brzinu, preciznost i jednostavno korištenje.

Ključna svojstva

- Z-os za pozicioniranje uzorka do 6 puta je brža (u usporedbi s XDV-SDD)
- Automatsko fokusiranje za manje od 2 sekunde
- Automatski ili ručni poklopac za fleksibilan rad
- Kamera s 10 puta većom razlučivošću i višezonsko LED osvjetljenje
- Optimizirana mjerna geometrija za vrlo precizne i ponovljive rezultate
- 180° statusno svjetlo koje uvijek prikazuje stanje uređaja
- Softver FISIQ X: moderno sučelje, vođeni postupci mjerenja i brža analiza

Tehnički podaci

Automatsko fokusiranje
za manje od 2 s (14× brže*)
Os Z
Velike brzine (6× brža*)
Kamera
10× veća razlučivost*, višezonsko LED osvjetljenje
Poklopac
Automatski ili ručni
Indikator stanja
180° svjetlosni indikator
Raspon debljina slojeva
Tanki i vrlo tanki slojevi < 0,05 μm
Softver
FISIQ X
Napomena
* u usporedbi s prethodnim modelom

Slični proizvodi

Zanima vas ovaj proizvod?

Pošaljite upit, a mi ćemo odgovoriti konkretnom ponudom ili savjetom.