FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ
Najmanja mjerna točka i najviša preciznost: za sitne, plosnate komponente i višeslojne sustave.
Više informacijaStolni XRF uređaj nove generacije za vrlo tanke i zahtjevne prevlake te analizu materijala u ppm području.

FISCHERSCOPE XDV vrhunski je svestrani stolni uređaj rendgenske fluorescencije za mjerenje debljine vrlo tankih i složenih prevlaka, i u nanometarskom području, te za analizu materijala u ppm području. Nova generacija izrađena je za brzinu, preciznost i jednostavno korištenje.
- Z-os za pozicioniranje uzorka do 6 puta je brža (u usporedbi s XDV-SDD)
- Automatsko fokusiranje za manje od 2 sekunde
- Automatski ili ručni poklopac za fleksibilan rad
- Kamera s 10 puta većom razlučivošću i višezonsko LED osvjetljenje
- Optimizirana mjerna geometrija za vrlo precizne i ponovljive rezultate
- 180° statusno svjetlo koje uvijek prikazuje stanje uređaja
- Softver FISIQ X: moderno sučelje, vođeni postupci mjerenja i brža analiza
Najmanja mjerna točka i najviša preciznost: za sitne, plosnate komponente i višeslojne sustave.
Više informacijaNajmanja mjerna točka pri najvećoj mjernoj udaljenosti: za mjerenje najmanjih komponenti.
Više informacijaProfesionalna serija za tiskane pločice: pouzdano i potpuno automatsko mjerenje najmanjih struktura.
Više informacijaPošaljite upit, a mi ćemo odgovoriti konkretnom ponudom ili savjetom.