FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ
Najmanja mjerna točka i najviša preciznost: za sitne, plosnate komponente i višeslojne sustave.
Više informacijaFISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ WAFER
Specijalizirano rješenje za automatsko mjerenje tankih slojeva i višeslojnih sustava na pločicama (wafer) od 6 do 12 inča.
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ WAFER
XDV-µ WAFER namijenjen je automatskom mjerenju tankih slojeva i višeslojnih sustava na pločicama promjera od 6 do 12 inča. Automatsko prepoznavanje slike omogućuje pouzdano mjerenje malih struktura.
Ključna svojstva
- Polikapilarna optika vlastite proizvodnje: Fischer je jedini proizvođač XRF uređaja s vlastitom proizvodnjom polikapilarnih leća
- DPP+ obrada signala: do 50 % bolja ponovljivost ili znatno kraće vrijeme mjerenja
- Automatsko prepoznavanje slike za pouzdano mjerenje malih struktura
Tehnički podaci
- Mjerna točka
- Od 10 µm (FWHM)
- Optika
- Polikapilarna: 10 µm bez haloa, 17 µm bez haloa ili 17 µm s haloom
- Primjena
- Pločice 6–12 inča
Slični proizvodi
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ LD
Najmanja mjerna točka pri najvećoj mjernoj udaljenosti: za mjerenje najmanjih komponenti.
Više informacija
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB
Profesionalna serija za tiskane pločice: pouzdano i potpuno automatsko mjerenje najmanjih struktura.
Više informacijaZanima vas ovaj proizvod?
Pošaljite upit, a mi ćemo odgovoriti konkretnom ponudom ili savjetom.