FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ
Najmanjša merilna pega in najvišja natančnost: za majhne ploske komponente in večslojne sisteme.
Več informacijFISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ WAFER
Specializirana rešitev za samodejno merjenje tankih plasti in večslojnih sistemov na rezinah (wafer) 6–12 palcev.
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ WAFER
XDV-µ WAFER je namenjen avtomatiziranemu merjenju tankih plasti in večslojnih sistemov na rezinah s premerom od 6 do 12 palcev. Avtomatsko prepoznavanje slike omogoča zanesljivo merjenje majhnih struktur.
Ključne lastnosti
- Polikapilarna optika lastne proizvodnje: Fischer je edini proizvajalec XRF merilnikov z lastno proizvodnjo polikapilarnih leč
- DPP+ procesiranje signala: do 50 % boljša ponovljivost ali občutno krajši merilni časi
- Avtomatsko prepoznavanje slike za zanesljivo merjenje majhnih struktur
Tehnični podatki
- Merilna pega
- Od 10 µm (FWHM)
- Optika
- Polikapilarna: 10 µm brez haloja, 17 µm brez haloja ali 17 µm s halojem
- Uporaba
- Rezine 6–12 palcev
Podobni izdelki
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ LD
Najmanjša merilna pega pri največji merilni razdalji: za merjenje najmanjših komponent.
Več informacij
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB
Profesionalna serija za tiskana vezja: zanesljivo in popolnoma samodejno merjenje najmanjših struktur.
Več informacijZanima vas ta izdelek?
Pošljite povpraševanje in odgovorili vam bomo s konkretno ponudbo ali svetovanjem.